雷射光束輪廓分析儀/焦點分析儀
CD0307UV-XD-266
本雷射光束輪廓分析儀可用於功率1W以下全固態雷射、光纖雷射以及半導體雷射等光源的聚焦光斑的檢測及線上監測等。廣泛應用於科研及工業領域。軟體介面中可顯示二維和三維能量分佈情況,以及光斑直徑、發散角和橢圓度等雷射光束輪廓特徵。
產品參數
- 型號:CD0307UV-XD-266
- 檢測波段:248nm-266nm(最大IR1650nm)
- 最小焦點:5μm
- 最大焦點:500um
- 像元尺寸:3.45um
- 解析度:2448x2048
- 幀率:5-10fps
- 動態範圍:70dB
- 倍率:10x
- 檢測精度:±1μm
- 曝光時間:0.05ms~500ms
- 最大功率:2W
- 內置衰減:OD0-4,任選 2 種,可替換
- 介面:USB3.0
- 外觸發:支持
- 重量:<1.5Kg
- 入光方向:豎直,水準
- 離焦範圍:-1mm,+1.3mm
測試數據
機械結構