雷射光束輪廓分析儀 基礎型
CN0307UV-M
本雷射光束輪廓分析儀，可用於功率50W以下全固態雷射、光纖雷射以及半導體雷射等光源的聚焦光斑的檢測及線上監測等。廣泛應用於科研及工業領域。軟體介面中可顯示二維和三維能量分佈情況，以及光斑直徑、發散角和橢圓度等雷射光束輪廓特徵。
技術參數
- 型號：CN0307UV-M
- 檢測波段：190~1100nm
- 感測器最大面積：8.4mm*7.1mm
- 感測器有效面積：7.1mm*7.1mm
- 最小光斑：35μm
- 最大光斑：4.7mm@基膜光束，中心入射
- 最大接收角：准直光：±2.5°；匯聚光：NA0.08
- 最小功率：1mW
- 最大功率：50W
- 檢測時間：50W/2 分鐘
- 齊焦公差：0.05mm
- 離焦測量範圍：±5mm，基於齊焦距離 95mm 計算
- 內置衰減：OD0.0~4，任選 2 種，可替換
- 介面：USB3.0
- 外觸發：支持
- 使用環境：溫度＜15~25℃，相對濕度＜60%
- 重量：＜1Kg
- 入光方向：豎直，可根據需求定制