影像校正片／對位片／標靶板／分劃板
由超鋒科技代理美國Max Levy Autograph, Inc.（簡稱 MLA），該公司產品以高精度光學製圖技術及專有圖案化方法為基礎，為多個行業的商業及軍事航太（MIL-AERO）客戶提供服務。
解析度與尺寸靶標非常適合應用於視覺/光學系統、計量以及攝影領域。這些靶標可用於檢測影像品質，包括解析度、對比度、調制傳遞函數（MTF）、景深（DOF）以及失真等特性。靶標採用耐用的鉻材質，光密度達 3.0，並適用於透射光及反射光應用。
- 應用範疇：軍事、度量、校正、機器視覺、醫學、半導體。
- 特色產品：度量與計量、光柵與空間頻率、靶標、分劃板、美國空軍與解析度靶標、灰階靶標、相機校準靶標、多功能靶標以及顯微鏡與放大鏡。
- 認證：通過 NIST、AS9100 Rev C 認證，包括 ISO 9001:2008 和 ISO 17025 認可資格。
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微米尺 Micro rules |
輝度標 Gray Scale Targets |
機械視野尺標 Machine Vision Scales |
柵格/點陣/扭曲陣列Grid/Dot/Distortion Arrays |
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客製化量測板 Custom Devices |
放大鏡/顯微鏡 Magnifiers and Microscopes |
比較量測器/小型放大器 Comparators and Loupes |
景深/模量傳遞函數量測儀 DOF and MTF Targets |
 分劃板 Reticles |
Custom Patterned Optics |
 朗奇刻線 Ronchi Rulings |
Ronchi Slides |
刮痕/凹陷標準片 Scratch / Dig Standards |
Clear Optical Path Target |
X射線標板 X-Ray Targets |
螢光標板 Fluorescent Targets |
