Lumetrics 波前儀／透鏡檢測系統
由超鋒科技代理美國Lumetrics公司產品，該公司專注於設計、開發及製造高精度、非接觸式厚度測量與光學檢測系統，實現高準確度、非破壞性、可重複性及即時測量的解決方案，廣泛應用於眼科製造、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）、玻璃、矽晶圓製造、醫療器械、汽車產業等領域。
CLAS-2D系統
CLAS-2D™ Shack-Hartmann波前儀系統涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beam profiler)、光束品質計(Beam quality meter)，軟體則可用來分析光的畸變(aberration)，包含散光性(astigmatism)、慧差(coma)、球面畸變(spherical aberration)、聚焦誤差(focus error/collimation)、傾斜(tilt)等等。CLAS-2D還可量測M2光斑品質、MTF(Moudulation transfer function)、Strehl Ratio、近場和遠場的光斑散度(Beam divergence)及其他的光斑參數，雷射可用連續(CW)和脈衝式(Pulse)，機型有可見光、近紅外光、遠紅外光三種型號可選擇。
典型的波前儀應用範圍
- 雷射光斑解析(Laser beam diagnostics)
- 光學測試(Optical testing)
- 對準(Alignment)
- 角度測量(Angular measurement)
- 準直(Collimation)
- 表面測量(Surface measurement)
